低電阻率測(cè)試儀（RESmap ） 參考價(jià)：面議
電阻率測(cè)試儀（RESmap ）在對(duì)低電阻率晶錠和晶圓進(jìn)行非接觸式測(cè)量方式上擁有非常重要的重復(fù)性 Si | Ge | 化合物半導(dǎo)體 | 寬帶隙 | 材料 | 金屬...
晶圓x射線全自動(dòng)化晶體定向儀分揀系統(tǒng)|束蘊(yùn)儀器 參考價(jià)：面議
晶圓x射線晶體定向儀分揀系統(tǒng)Wafer XRD用于全自動(dòng)分揀、晶體取向、optical notch and flat determination測(cè)定等。Si |...
Ingot XRD - 晶錠X射線定向儀 參考價(jià)：面議
Ingot XRD - 晶錠X射線定向儀有著*的XRD系統(tǒng)，用于單晶晶錠的自動(dòng)定向、傾斜和對(duì)準(zhǔn)研磨。SiC | Si| AlN | GaAs | Quartz ...
Omega/Theta XRD- 定制的樣品架 參考價(jià)：面議
Omega/Theta XRD- 定制的樣品架用于微小圓柱體、大型晶鑄或立方體晶體定向的夾具
Omega/Theta XRD- 搖擺曲線測(cè)量 參考價(jià)：面議
Omega/Theta XRD- 搖擺曲線測(cè)量意味著在Theta-scan模式下進(jìn)行測(cè)量，這需要一個(gè)測(cè)角儀。一個(gè)雙晶體被帶入主光束路徑，以減少光譜寬度和發(fā)散度。...
Theta XRD晶錠粘接轉(zhuǎn)移技術(shù) 參考價(jià)：面議
Theta XRD晶錠粘接轉(zhuǎn)移技術(shù)（堆垛 stacking），晶體（如SiC的晶錠）。這些需要在線切過(guò)程之前進(jìn)行定向?qū)?zhǔn)。Freiberg儀器公司提供了一個(gè)方便...
Omega/Theta XRD Mapping面掃功能 參考價(jià)：面議
Omega/Theta XRD Mapping面掃功能掃臺(tái)允許使用受控的網(wǎng)格模式來(lái)探索整個(gè)樣品表面。Omega/Theta XRD可以很容易地在轉(zhuǎn)盤(pán)頂部容納額外...
Omega/Theta XRD - X射線晶體定向儀 參考價(jià)：面議
Omega/Theta XRD - X射線晶體定向儀用于超快速的晶體定向、生產(chǎn)中的晶體排列、質(zhì)量控制、搖擺曲線測(cè)量、材料研究等。SiC | Si| AlN | ...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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